Strona Główna
  METODY BADAWCZE
  Kontakt
  Dane teleadresowe
  Wzory dokumentów
 
USŁUGI
  UMCS
  Pracownicy
  Centrum Nanomateriałów Funkcjonalnych
 
PRACOWNIA SPEKTROMETRII RENTGENOFLUORESCENSYJNEJ (XRF)


Spektrometr Fluorescencji Rentgenowskiej Canberra Packard - USA (rok prod. 1991)





Charakterystyka spektrometru:

  • wzbudzanie fluorescencji rentgenowskiej atomów próbki przy użyciu radioizotopowych źródeł: Cd-109, Fe-55, Am-241

  • metoda analizy z dyspersją energii zapewniającą wysoką czułość pomiarów i kumulacyjną rejestrację widma dla szerokiego zakresu pierwiastków

  • detektor półprzewodnikowy Si (Li) pracujący w temperaturze ciekłego azotu
  • wielokanałowy analizator energii fotonów fluorescencji rentgenowskiej
  • komputerowe sterowanie i obróbka danych z zastosowaniem oprogramowania Mikro AXIL oraz QXAS


Pracownia oferuje usługi w zakresie:
  • analiza ilościowa składu pierwiastkowego próbek (łącznie z analizą mikrośladów)
  • szybka analiza ilościowa pierwiastków w serii próbek o podobnym składzie
  • atestacja różnych materiałów na zawartość mierzalnych pierwiastków
  • pomiary skażeń środowiska naturalnego pierwiastkami toksycznymi


Cechy metody pomiarowej:

  • analizy dotyczą próbek stałych i ciekłych (po odparowaniu rozpuszczalnika), nieorganicznych i organicznych, biologicznych oraz całych przedmiotów

  • zakres analizowanych pierwiastków: od krzemu do najcięższych (łącznie z lantanowcami i aktynowcami)

  • równoczesny pomiar zawartości wielu mierzalnych pierwiastków wchodzących w skład próbki

  • czułość metody XRF wzrasta ze wzrostem liczby atomowej pierwiastków. W pierwszym zakresie od krzemu do rutenu, w drugim od rodu do najcięższych, trzeci zakres przeznaczony jest głównie do analizy lantanowców. Niezależnie od tego czułość jest proporcjonalna do pierwiastka kwadratowego z czasu pomiaru. Po czasie pomiaru przekraczającym 1 godz. analiza zwykle uzyskuje rangę mikrośladowej. Wyższe czułości odpowiadają zawartości pierwiastków rzędu
    10-4 % (wagowo), po zabiegach mineralizacji - rzêdu 10-5 - 10-6 %, a po odparowaniu rozcieńczalnika (np. próbka wody) nawet do 10-7 % w odniesieniu do pierwotnej masy próbki. Wymagana masa próbek użytych do pomiaru podyktowana jest czułością spektrometru dla określonych pierwiastków: minimum dziesiąte części miligrama, standardowo 0,5 g lub całe przedmioty

  • możliwość odzyskania próbek w stanie nie zmienionym
  • niezależność wyników pomiarów od wiązań chemicznych dzięki wzbudzaniu najgłębszych poziomów energetycznych w atomach

  • ograniczona mało kosztowna preparatyka chemiczna (jeśli jest konieczna); standardowo próbki poddaje się mechanicznej homogenizacji z dodatkiem standardów wewnętrznych

  • małe prawdopodobieństwo wtrącenia zanieczyszczeń w związku z ograniczoną preparatyką chemiczną oraz dzięki niewrażliwości detektora na zanieczyszczenie układu wzbudzania i detekcji


Zaleca się konsultację odnośnie ewentualnej preparatyki chemicznej wykonywanej przez Zleceniodawcę, aby uniknąć niepożądanych zanieczyszczeń i rozcieńczeń próbki.



Przykłady analizowanych próbek:
  • gleby, minerały, stopy metali, opady pyłów, kondensaty z filtrów, cienkie warstwy, przedmioty archeologiczne, naczynia, powłoki malarskie, odczynniki chemiczne

  • rośliny, żywność, tkanka zwierzęca, włosy, farmaceutyki

  • woda, opady atmosferyczne, mleko, krew, inne płyny fizjologiczne, ścieki przemysłowe, aerozole


Wygląd Pracowni XRF i Spektrometru

         

KONTAKT

mgr Tadeusz Wójcicki

Wydział Chemii UMCS;
20-031 Lublin;
Plac M. Curie-Skłodowskiej 3
Collegium Chemicum; pok. 10

(0-81) 537-57-28
tadeusz.wojcicki@umcs.pl
   
MULTIMEDIA